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oe1(光电查) - 科学论文

10 条数据
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  • 通过（扫描）透射电子显微镜技术对块体和纳米颗粒卤化铅钙钛矿薄膜的结构表征

    摘要： 卤化铅(APbX3)钙钛矿材料，无论是多晶薄膜还是钙钛矿纳米颗粒(NPs)，都展现出实现新一代光伏和光子器件的卓越性能。(扫描)透射电子显微镜((S)TEM)技术对APbX3薄膜的结构表征能提供重要信息，有助于理解并建模其光电性能与器件特性。然而由于APbX3钙钛矿属于软性材料，采用(S)TEM进行表征具有挑战性。本研究对比分析了两种金属卤化物APbX3钙钛矿薄膜的结构特性：通过溶液旋涂前驱体制备的块体CH3NH3PbI3，以及采用刮刀法合成沉积的CsPbBr3胶体NPs。我们优化了两种样品制备方法和(S)TEM分析的工作条件。结果表明：一步法生长的CH3NH3PbI3薄膜形成具有良好TiO2层附着性的四方相钙钛矿，其光致发光(PL)发射峰位于775 nm?；贑sPbBr3胶体NPs（作为薄膜构建单元）的钙钛矿薄膜在沉积过程中结构得以保留，尽管相邻NPs间存在微小间隙。CsPbBr3 NPs的立方晶体结构因其最佳带隙而具有优异光学特性。CsPbBr3 NPs薄膜与胶体溶液的吸收/PL光谱高度相似，表明薄膜具有良好的均匀性且无NPs团聚现象。但结构研究需特别注意避免长时间电子辐照——即便在80 kV低电压下，该材料仍会因铅偏析而发生分解。

    关键词： 结构表征、透射电子显微镜（TEM）、薄膜、光电子学、扫描透射电子显微镜（STEM）、纳米粒子、钙钛矿

    更新于2025-09-23 15:23:52

  • 自由站立GaN衬底上Mg注入与Mg掺杂GaN层缺陷的对比分析

    摘要： 低效的镁诱导p型掺杂一直是固态照明和功率应用中GaN基电子器件发展的主要障碍。本研究通过两种方法（离子注入和外延掺杂）在独立GaN衬底上对Mg掺入的GaN层缺陷进行了对比结构分析。扫描透射电子显微镜显示，仅Mg注入样品中存在锥形和线状缺陷，而Mg掺杂样品未呈现这些缺陷，表明缺陷性质取决于掺入方式。二次离子质谱分析发现Mg浓度与这些缺陷的位置及类型存在直接对应关系。研究表明这些锥形和线状缺陷是富Mg物质，其形成可能导致自由空穴密度降低——这仍是p-GaN基材料和器件的关键问题。由于独立GaN衬底为基于p-n结的垂直器件实现提供了平台，针对此类衬底上不同Mg掺入工艺引发的GaN层缺陷进行对比结构研究，将有助于深入理解Mg自补偿机制，进而优化Mg掺杂和/或注入工艺以推动GaN基器件技术发展。

    关键词： 线缺陷、锥形缺陷、二次离子质谱（SIMS）、氮化镓（GaN）、扫描透射电子显微镜（STEM）

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 基于石榴石薄膜闪烁体的S(T)EM前瞻性闪烁电子探测器

    摘要： 基于新型外延石榴石薄膜闪烁体的扫描电子显微镜和/或扫描透射电子显微镜（S(T)EM）用闪烁电子探测器的性能进行了研究。制备了化学式为(Ce0.01Lu0.27Gd0.74)3–wMgw(Ga2.48Al2.46)O12的LuGAGG:Ce和LuGAGG:Ce,Mg薄膜闪烁体，并对其阴极发光（CL）和光学特性进行了研究，与当前标准块状单晶YAG:Ce和YAP:Ce闪烁体的特性进行了比较。更具体地说，测量了上述闪烁体的CL衰减特性、CL发射光谱、CL强度、光学吸收系数和折射率。此外，还计算了电子相互作用体积与吸收能量分布、光电倍增管（PMT）光阴极匹配度、调制传递函数（MTF）以及采用上述闪烁体的闪烁探测器的光子传输效率。观察到LuGAGG:Ce,Mg薄膜闪烁体的CL衰减时间低至28 ns，在电子束激发后1 μs时的余辉仅为0.02%。根据计算的MTF，采用新薄膜闪烁体的闪烁探测器在0.6 lp/像素以上时失去对比度传递能力，而目前常用的YAG:Ce单晶闪烁体在0.1 lp/像素以上时即已如此。计算还表明，即使对于简单的圆盘形状，新研究的薄膜闪烁体相比标准块状单晶YAG:Ce闪烁体也具有8%更高的光子传输效率。所研究的LuGAGG:Ce,Mg外延石榴石薄膜闪烁体被认为是电子探测器（不仅在S(T)EM中，也在其他电子束设备中）有前景的快速闪烁体。

    关键词： 电子探测器、多组分石榴石薄膜、闪烁体、扫描透射电子显微镜（STEM）、扫描电子显微镜（SEM）、LuGAGG:Ce、镁、阴极发光

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 2016年欧洲显微镜学大会论文集 || 利用纳米颗粒标记和液相电子显微镜研究完整细胞中的膜蛋白

    摘要： 细胞质膜上存在受体蛋白，它们如同"倾听者"接收外界的化学信号。这些信号由配体（能与受体特异性结合的小分子）构成。但由于现有分析方法的局限性，这些信号如何被解读并引发细胞决策的过程尚未完全阐明。通常极难直接观察内源性表达的单个蛋白质如何在完整细胞中响应配体结合——这种结合可能触发形成蛋白质复合物进而启动信号传导过程。目前通过生化方法获得的细胞功能知识，大多基于成千上万个细胞的混合材料分析，因而反映的是群体平均水平。但要理解细胞解读信号的基本机制，必须着眼于单个细胞。如今利用液相扫描透射电子显微镜（STEM）[1,2]，已能在完整真核细胞的纳米尺度研究膜蛋白。关键步骤是将目标蛋白与小探针（如金纳米颗?；蛄孔拥愕饶擅卓帕＃┮砸欢砸槐壤匾煨员昙恰＝禾赴糜谖⒘骺厍皇抑校ǜ们皇沂寡敬τ诘缇嫡婵栈肪常?，即可进行STEM成像。某些研究无需完全封闭细胞，仅需获取细胞表层薄区的信息，此时采用配备STEM探测器[3]的环境扫描电子显微镜（ESEM）即可实现高分辨率成像。液相STEM曾被用于研究完整SKBR3乳腺癌细胞中表皮生长因子HER2在单分子水平的形成过程[4]。作为膜蛋白的HER2对乳腺癌侵袭性和进展具有重要作用，基于单个HER2位置计算配对相关函数的数据分析显示：不同细胞区域间、乃至不同细胞间存在显著的功能差异，这些发现可能为癌症转移和药物反应研究提供重要线索。

    关键词： 量子点、扫描透射电子显微镜（STEM）、环境扫描电子显微镜（ESEM）、完整细胞、液相、表皮生长因子受体（EGFR）、人表皮生长因子受体2（HER2）

    更新于2025-09-23 15:21:21

  • 基于氮化镓激光二极管的Pd/p-GaN接触的结构与电学特性

    摘要： 本文探讨了基于GaN的激光二极管中Pd基p型接触层的特性。钯（Pd）常被选作p-GaN欧姆接触的金属材料，但Pd/p-GaN欧姆接触界面处观察到的纳米空洞会影响器件可靠性和重复性。作者通过X射线光电子能谱（XPS）和扫描透射电子显微镜（STEM）对Pd/p-GaN界面微观结构进行了深入分析。STEM数据显示p-GaN/Pd界面的微空洞形成于快速热退火过程，其成因可能涉及以下因素的综合作用：(1)材料间热膨胀系数差异；(2)半导体、界面及金属中过量基质原子或杂质原子释放形成的气体；(3)Pd对富镓p-GaN表面产生的强反润湿效应。退火过程中采用缓慢升温速率可抑制界面气体聚集，从而减少空洞形成。XPS数据表明，通过适当清洁p-GaN表面可降低Ga/N比以增强Pd附着性。通过对表面洁净度与退火参数的系统优化，最终实现了无空洞且洁净的Pd/p-GaN界面，使同外延层结构的特定接触电阻值在1mA测试电流下通过线性传输线法测量降低一个数量级至2×10?3 Ω·cm2。

    关键词： Pd/p-GaN接触、扫描透射电子显微镜（STEM）、纳米空洞、欧姆接触、快速热退火、X射线光电子能谱（XPS）、氮化镓基激光二极管

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • 基于高角环形暗场扫描透射电子显微镜（HAADF STEM）图像的原子列检测最大后验概率准则

    摘要： 最近，最大后验概率（MAP）准则被提出作为一种客观且定量的方法，用于从高分辨率高角环形暗场（HAADF）扫描透射电子显微镜（STEM）图像中检测原子列甚至单个原子。该方法结合了贝叶斯框架下的统计参数估计和模型阶数选择，尤其适用于分析对电子束敏感的纳米材料结构。为避免电子束损伤，此类材料的成像通常采用有限的入射电子剂量，导致对比噪声比（CNR）较低，使得目视检查不可靠，因此需要一种客观定量的方法。本文阐述了MAP概率准则的方法学原理，给出其逐步推导过程，并讨论了该算法在原子列检测中的实现方案。此外，模拟结果表明：在从HAADF STEM图像中正确识别原子列数量方面，MAP概率准则的性能优于其他模型阶数选择标准（包括赤池信息量准则AIC和贝叶斯信息量准则BIC）。同时，研究将MAP概率准则作为评估STEM图像质量指标与原子可探测性关联的工具，由此引入了综合对比噪声比（ICNR）这一新指标——相较于信噪比（SNR）和传统CNR等常规指标，该指标与原子可探测性的相关性更强。

    关键词： 原子检测，扫描透射电子显微镜（STEM），原子可检测性，模型选择

    更新于2025-09-23 23:11:33

  • [2019年IEEE光子学会议(IPC) - 美国德克萨斯州圣安东尼奥 (2019.9.29-2019.10.3)] 2019年IEEE光子学会议(IPC) - 提高硅衬底上InAs量子点激光器的可靠性

    摘要： 利用关联电子显微镜技术，我们表征了InAs量子点（QD）结构中的光电特性和位错结构属性。结果表明，尽管位错显著影响量子点的发光性能，但与量子阱结构相比，位错攀移增强的复合速率在老化过程中明显减缓。

    关键词： 量子点激光器、扫描透射电子显微镜（STEM）、位错、硅光子学、阴极荧光、硅基III-V族半导体

    更新于2025-09-11 14:15:04

  • 《AIP会议论文集》[作者：SolarPACES 2017：国际聚光太阳能与化学能源系统会议——智利圣地亚哥（2017年9月26-29日）] - 碳钛多层薄膜：合成与表征

    摘要： 采用热阴极真空电?。═VA）法在硅基底上制备了碳-钛（C-Ti）多层薄膜。涂层由低蒸发速率沉积的约100纳米碳基底层构成，随后在其上方交替沉积七组碳钛层，每层最终厚度达40纳米。本研究通过改变基底温度（0℃至300℃）和施加负偏压（0V至-700V）获得不同批次样品。利用透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）及拉曼光谱技术表征了C-Ti多层结构的微观特性。摩擦学测量结果与Ti/C界面原子扩散过程相关。通过测量电阻随温度变化评估了导电性能。

    关键词： Ti/C多层膜、TVA、扫描透射电子显微镜（STEM）、摩擦学性能、扫描电子显微镜（SEM）、能量色散X射线光谱（EDX）、拉曼光谱、电学性能、透射电子显微镜（TEM）

    更新于2025-09-09 09:28:46

  • 利用会聚束电子衍射对KNbO?铁电立方顺电相的纳米尺度局域结构研究

    摘要： 利用纳米尺寸电子探针的会聚束电子衍射（CBED）技术，研究了铌酸钾（KNbO3）顺电立方相的纳米尺度局域结构。在KNbO3立方相的纳米尺度区域内，直接观测到了立方对称性的破缺现象，这表明立方相中存在局域极化团簇。通过结合扫描透射电子显微镜（STEM）与CBED（STEM-CBED）技术，给出了不同温度下四重旋转对称性破缺指数图谱。? 2017 日本应用物理学会

    关键词： 局部极化团簇、会聚束电子衍射（CBED）、扫描透射电子显微镜（STEM）、铌酸钾（KNbO3）、对称性破缺

    更新于2025-09-09 09:28:46

  • 用于扫描透射电子显微镜-能量色散X射线光谱系统的X射线TES探测器头组件及其性能

    摘要： 设计、制造并测试了一种用于扫描透射电子显微镜（STEM）的能量色散X射线光谱仪（EDS）探测器头。该探测器头搭载了64像素的TES X射线微热量计和64路SQUID阵列放大器（SAAs），整体冷却至约100毫开尔文。探测器头主体为横截面积约1平方厘米、长度10厘米的铜棒，底部设有3立方厘米的立方结构。TES微热量计安装在铜棒顶端，SAAs则分布于立方结构的四个侧面。为减少键合线数量，SAAs采用倒装芯片键合技术。针对SAAs芯片与安装面线性热膨胀系数差异导致的键合应力问题，我们将SAAs及连接室温电子器件的连接器集成于蓝宝石电路板，并通过超导倒装芯片键合技术进行安装。随后将TES与蓝宝石电路板共同固定于铜棒上，通过铝制键合线将其与铜棒多面体表面制作的超导印刷电路连接。此举将键合线数量从768根降至256根。倒装芯片键合良率虽非完美但保持较高水平。将该探测器头安装至STEM EDS系统后，确认其能量分辨率与计数性能达到要求（能量分辨率ΔE<10电子伏特，计数率5千计数/秒）。

    关键词： EDS、TES、超导倒装芯片键合、扫描透射电子显微镜（STEM）

    更新于2025-09-04 15:30:14