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在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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概述
参数
- 过滤器类型 / Filter Type : Laser Line Filter
- 半高宽（FWHM） / Bandwidth (FWHM) : 10 nm
- FWHM公差 / FWHM Tolerance : ± 2 nm
- 阻挡波长 / Blocking Wavelength : 200 to 1150 nm
- RoHS / RoHs : Yes
- 过滤器形状 / Filter Shape : Round
- 基底/材料 / Substrate/Material : Schott Borofloat, Soda Lime
- 滤波器直径 / Filter Diameter : 25.4 mm (1 Inch)
- 表面质量 / Surface Quality : 80-50 scratch-dig
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表面热透镜技术中弱吸收缺陷的快速成像多通道平均检测方法
光热特性表征 弱吸收缺陷 多通道平均 表面热透镜效应 光学材料
表面热透镜技术（STL）是一种高灵敏度的泵浦-探测技术，用于光学材料中弱吸收缺陷的光热特性表征。通常在泵浦光束中施加频率调制，然后通过锁相放大器检测探针光束上以强背景为基底的小幅调制STL信号。然而，通过在频域滤波进行锁相检测会导致STL效率低下，阻碍了大面区域的检测研究。本文表明，对应于时间积分的多通道平均法更适合STL信号检测。实验证明，将传统单点扫描STL改进为线扫描STL，并采用合适的时间仓宽度和记录次数，在相同6分贝信噪比和20微米成像分辨率条件下，多通道平均检测的成像速度可比锁相检测提高3.7倍。因此能以更高效率和更低激光辐照度记录弱吸收缺陷的高质量光热图像，从而实现对大尺寸样品的检测。
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究比较了多通道平均检测与锁相放大检测在扫描热透镜技术（STL）中成像弱吸收缺陷的效果。多通道平均法通过对STL信号进行时间积分，重点关注泵浦光调制"开"和"关"阶段的波峰与波谷。 2. 样本选择与数据来源：采用熔融石英基底上沉积的高反射率涂层（SiO2/Ta2O5）作为样本，该涂层具有已知吸收缺陷。 3. 实验设备与材料清单：高功率泵浦激光器（1064 nm，10 W）、低功率探测激光器（635 nm，3.8 mW）、多边形镜、远心f-θ物镜、光电探测器、空间滤波器、带通滤波器以及校准标准件（熔融石英基底上的HfO2层）。 4. 实验流程与操作步骤：改装装置实现线扫描STL，同步扫描泵浦光束与探测光束。通过带空间滤波器的光电探测器检测STL信号。多通道平均法通过将信号分时段并多次记录取平均值实现。 5. 数据分析方法：计算信噪比（SNR）以比较多通道平均与锁相放大的性能，使用已知标准件对样本的绝对吸收率进行校准。
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