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oe1(光电查) - 科学论文

105 条数据
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  • GaN HEMT横向尺寸缩放下自热效应的评估

    摘要： 通过基于元胞蒙特卡罗粒子器件模拟器，研究了硅基GaN高电子迁移率晶体管中自热机制的影响。该框架通过声子能量平衡方程纳入热效应，实现电荷与热输运的自洽耦合。首先建立实验器件的先进电热模型并校准至直流特性测量值，由于捕捉了改变电荷输运的散射过程温度依赖性，模型在整个IDS(VGS?VDS)空间呈现精确描述。随后利用该模型评估横向尺寸缩减（即减小源漏栅间距LSG和栅漏间距LGD）的影响，通过获取声学/光学声子模式的详细温度分布图以及电场与载流子速度分布曲线进行研究。研究发现沟道热点位置并非如既往方法预测的处于电场峰值处，而是向漏极偏移达32纳米。此外研究表明：虽然尺寸缩减器件具有更优的直流和小信号交流性能，但在耗散相同直流功率时，其沟道温度较原始非缩减器件升高高达15%，且全器件温度分布与缩减版图呈现强相关性。

    关键词： 可靠性、高电子迁移率晶体管（HEMTs）、蒙特卡罗方法、自热效应、尺寸缩放、氮化镓（GaN）

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 光伏组件电池金属化层与封装材料界面处粘附退化的机制

    摘要： 通过温度、湿度和电压偏置暴露测试，对光伏组件封装材料/银金属化界面的粘附性能及化学特性进行了研究。结果表明存在两种独立的降解机制：(a) 在电压偏置条件下，Na+离子通过封装材料的离子传导作用会在银金属化表面形成硅酸钠，从而削弱该界面；(b) 湿气侵入时，银氧化物中硅烷与银的键合发生解离，同样会削弱该界面并导致显著降低的剥离能。

    关键词： 光伏组件、丝网印刷、可靠性、封装、退化、金属化

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 透明NiO栅控AlGaN/GaN异质结构场效应晶体管中的快慢界面陷阱

    摘要： 在本研究中，我们考察了透明NiO栅控AlGaN/GaN异质结场效应晶体管的可靠性。与TiN肖特基栅控器件相比，p型NiO电极能有效抑制栅极漏电流并使阈值电压正向偏移。脉冲模式和温度依赖的电流-电压测试表明两类器件均具有良好的稳定性。频率相关的电导测量证实：TiN栅控器件仅检测到快态陷阱，而NiO栅控器件同时存在快慢两种陷阱。慢态陷阱归因于NiO与AlGaN/GaN之间II型交错能带结构中的空穴俘获现象，高频环路扫描曲线中明显的阈值电压不稳定性也验证了这一结论。

    关键词： p型氧化镍，空穴俘获，可靠性，透明栅极

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 通用测试装置通过实施多种重复性机械变形来评估柔性电子器件的可靠性

    摘要： 柔性电子设备的一项要求是它们在重复机械变形期间和之后保持其电性能。因此，在本研究中，开发了一种通用测试装置，用于对柔性电极进行原位电导率测量，该装置能够施加各种机械变形，如弯曲、扭转、剪切、滑动、拉伸以及由两种同时变形组成的复杂模式?；固岢隽艘恢忠曰⌒伪湫问匝栽诘ヒ缓徒惶娣较蛏嫌盏季韧淝αΦ男路椒?，并配有数学推导的控制方法。作为弧形弯曲方法的一个示例，通过施加重复的内弯曲、外弯曲和交替内外弯曲，测量了印刷射频识别（RFID）标签天线的电阻变化。经过5000次循环后，仅经受内弯曲或外弯曲的试样的电阻增加在30%以下；然而，经受交替内外弯曲的试样的电阻增加了135%。在柔性电子设备商业化之前，确定其在各种机械变形下的可靠性至关重要。所提出的测试装置可以轻松提供各种变形，这将有助于为设备形状和结构的设计提供信息，以适应使用过程中的变形。

    关键词： 机械变形、印刷电子、可靠性、测试装置、柔性电子

    更新于2025-09-23 15:22:29

  • 新兴市场太阳能微电网可靠性评估——问题与解决方案

    摘要： 电力系统最重要的技术特性之一是能够可靠地向用户供电。通过对印度北部农村地区12家正在运营太阳能微电网的能源服务公司（ESCO）进行访谈，本研究识别出与技术设计、用户行为及运维管理（O&M）相关的重要因素，这些因素可能导致供电中断。此外，研究还展示了企业为解决这些问题所采取的创新方案。由于可比数据有限，初期访谈方法仅能对不同可靠性水平进行粗略的定性比较。我们发现，采用更具描述性的可靠性评估方法，同样能为可再生能源离网能源项目提供有价值的信息。为此，我们提出一个评估可靠性的简易框架，重点突出了发展中国家离网地区的特殊特征。

    关键词： 可靠性、微电网、发展中国家的能源系统、印度、技术可持续性、可靠性评估

    更新于2025-09-23 15:21:21

  • [美国机械工程师学会2018年电子与光子微系统封装与集成国际技术会议及展览 - 美国加利福尼亚州旧金山（2018年8月27日星期一）] 美国机械工程师学会2018年电子与光子微系统封装与集成国际技术会议及展览 - 温度、应变率和时效对SAC无铅焊料泊松比的影响

    摘要： 在本研究中，我们对SAC无铅焊料的泊松比进行了数值与实验相结合的研究。泊松比（PR）是众多材料本构模型中的基本力学性能参数。尽管该参数常被忽略，但它在有限元方法（FEM）计算中具有重要影响。相较于其他材料特性，SAC无铅焊料泊松比的取值研究相对不足，在有限元分析中通常默认取值为?=0.3。本研究揭示了焊点泊松比取值对BGA组件热循环有限元结果的影响——有限元模型中的可靠性预测基于Morrow-Darveaux能量疲劳模型，建模对象包含间距为0.4mm和0.8mm的5/10/15mm三种尺寸PBGA组件（采用SAC305焊料）。这些封装件承受-40至125℃的时变循环温度场，假设其在25℃室温下处于无应力状态且制造过程未引入残余应力。仿真结果表明：当泊松比取值范围为0.15<?<0.40时，焊料塑性功变化超过20%，预测可靠性差异达50%以上。 通过微拉伸/扭转试验机对SAC305（96.5Sn3.0Ag0.5Cu）试样进行单轴拉伸应力-应变测试以测定实际泊松比，测试参数包括：两种应变率（0.0001和0.00001 sec?1）、四个测试温度（25/50/75/100℃）以及125℃下的多组时效时长。采用应变片配合LabVIEW软件自动采集轴向与横向变形数据，通过线性回归分析确定泊松比值。实验矩阵系统研究了温度、应变率、合金成分及凝固冷却速率对焊料泊松比的影响规律：泊松比随温度升高而增大，随应变率增加而减??；较慢的凝固冷却速率会使泊松比升高；等温时效导致的微观组织粗化同样会引起泊松比增大。

    关键词： 有限元分析，无铅焊料，可靠性，数据采集，PBGA封装

    更新于2025-09-23 15:21:21

  • iSense光学扫描仪测量经胫骨残肢模型体积的可靠性和有效性

    摘要： 背景：残肢体积测量通常是截肢患者常规护理的一部分，这些测量有助于确定假肢适配或更换的时机。为做出充分知情的决策，临床医生需要使用有效且可靠的测量工具。 目的：评估iSense光学扫描仪测量经胫骨截肢残肢模型体积的可靠性和标准效度。 研究设计：三名评估者分别使用iSense光学扫描仪（美国3D Systems公司）对13个残肢模型各进行两次测量。采用组内相关系数计算评估者内和评估者间可靠性，通过Bland-Altman图检验一致性。使用已知尺寸的钢棒评估标准效度，由一名评估者进行十次重复测量，采用t检验确定测量值与真实钢棒体积的差异。 结果：评估者内可靠性极佳（组内相关系数范围：0.991-0.997，所有95%置信区间均较窄）。虽然组内相关系数显示三名评估者间具有极佳的评估者间可靠性（组内相关系数范围：0.952-0.986），但评估者3与其他两名评估者间的95%置信区间较宽。Bland-Altman图也显示与评估者3的一致性较差。标准效度极差，iSense测量平均值与真实钢棒体积存在显著差异（差值：221.18毫升；p<0.001）。 结论：尽管iSense扫描仪的评估者内可靠性极佳，但我们未发现评估者间可靠性和效度具有类似结果。这些结果表明，在临床实践应用前需要对iSense扫描仪进行进一步测试。

    关键词： 有效性、残肢、可靠性、体积

    更新于2025-09-23 15:21:21

  • [2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 美国伊利诺伊州芝加哥（2019.6.16-2019.6.21）] 2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 冷暴露温度对光伏组件机械耐久性测试的影响

    摘要： 现有的机械耐久性测试流程通常在环境暴露（如热循环或湿热冷冻）之前进行机械加载。最新研究表明，硅太阳能电池在低于-20°C的温度环境下暴露后，其断裂强度会降低。为更准确评估电池片裂纹耐久性，我们尝试在机械加载前引入单次热循环测试。通过对比?？樵诘ゴ稳妊非昂蟪惺芫蔡嬖睾傻那榭?，并采用电流-电压测试与电致发光成像进行表征，结果显示：经过单次低温暴露后，在相同载荷作用下产生的电池片裂纹数量显著增加。本研究探讨了如何利用这一发现进一步优化机械耐久性的认证测试流程。

    关键词： 电池片破裂、光伏组件、机械耐久性、可靠性、硅

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • 光伏组件光学污垢建模与检测的最优波长选择

    摘要： 污垢通过减少到达光伏电池的光量以及改变其外部光谱响应来影响光伏组件的性能。目前，污垢监测市场正转向测量透射率或反射率的光学传感器，而非直接测量污垢对光伏组件性能的影响。这些采用单一光学测量的传感器无法校正取决于太阳辐照光谱和被监测光伏材料光谱响应的污垢损失。本研究探索了仅通过两到三次单色测量提取完整污垢光谱特征来改进污垢光学检测的方法。通过分析在西班牙哈恩进行的为期46周实验性污垢研究期间，使用分光光度计测量的光谱透射率数据发现：采用被污染光伏玻璃半球透射率的光谱特征能显著提升污垢检测效果，在不同光伏材料和辐照条件下均呈现最低误差。此外，研究还表明可根据被监测光伏半导体材料（硅、碲化镉、非晶硅、铜铟镓硒及代表性钙钛矿）选择测量波长以最小化污垢损失检测误差。与单波长测量技术相比，本文讨论的方法对潜在测量误差也表现出更强的鲁棒性。

    关键词： 污垢、灰尘、光学建模、光伏、光谱损失、可靠性

    更新于2025-09-23 15:21:01

  • [IEEE 2020国际计算、网络与通信会议(ICNC) - 美国夏威夷大岛(2020.2.17-2020.2.20)] 2020年国际计算、网络与通信会议(ICNC) - 多用户水下无线光通信系统性能研究

    摘要： 本文提出了一种用于绝缘栅双极型晶体管（IGBT）?？橄冉铀俟β恃凡馐缘淖爸糜敕椒?。该测试能在更接近实际工况的电气条件下进行，并实现对被测功率IGBT?？榈脑谙咚鸷募嗖狻Ｍü蛞卓刂品椒纯赡Ｄ舛嘀纸咏媸等啾淞髌饔τ玫牡缙た?。此外，基于所提出的温度应力施加方案，可在短周期内施加不同幅值的温度波动，并灵活调整温度循环周期。得益于较短的温循周期，测试结果能在合理时间内获得。文中详细阐述了加速功率循环测试装置的配置及各类功能控制方法等装置细节，进而提出一种改进的原位结温估算方法（利用导通态集射极电压VCE_ON与负载电流）。为验证所提装置与方法的有效性，还展示了采用600V/30A塑封IGBT?？榭瓜冉铀俟β恃凡馐缘牧鞒逃氩馐越峁?。最后对测试后的IGBT模块进行了失效物理分析。

    关键词： 功率循环测试、失效物理、失效机理、寿命模型、绝缘栅双极型晶体管?？?、可靠性

    更新于2025-09-23 15:21:01